如何检测可控硅的好坏？

可控硅怎么测量好坏

可控硅（Silicon Controlled Rectifier，简称SCR），也称晶闸管，是一种大功率电器元件，具有单向导电特性。它被广泛应用于各种电子设备和电子产品中，多用来作可控整流、逆变、变频、调压、无触点开关等。在家用电器中的调光灯、调速风扇、空调机、电视机、电冰箱、洗衣机、照相机、组合音响、声光电路、定时控制器、玩具装置、无线电遥控、摄像机及工业控制等方面，都大量使用了可控硅器件。为了确保电路的正常运行，了解如何测量可控硅的好坏显得尤为重要。

一、外观检查

外观检查是测量可控硅好坏的第一步，主要查看产品表面是否有裂纹或破损现象，以及表面的氧化层是否均匀等状况。这些表面缺陷可能会影响可控硅的电气性能和可靠性。螺栓型可控硅的螺栓端为阳极A，较细的引线端为栅极G，较粗的引线端为阴极K。扁平晶闸管的引线端为栅极G，扁平端为阳极A，另一端为阴极K。金属封装晶闸管（T0-3）的外壳为阳极A，塑料晶闸管（T0-220）的中间引脚为阳极A，多与自身散热片相连。塑封式MCR100系列晶闸管，正对文字，从左至右依次为阴极、栅极、阳极。如果晶闸管的标识模糊，无法直观地判别出极性，就需要进一步进行检测。

二、电阻值测试

电阻值测试是判断可控硅好坏的重要手段之一。通过测量可控硅各引脚间的电阻值，可以初步判断其电气性能。用万用表选电阻R×1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

将黑表笔接阳极A，红表笔接阴极K，万用表指针应不动。用短线瞬间短接阳极A和控制极G，万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。

三、耐压测试（耐电流测试）

耐压测试是指将一表笔与电源正极相连，另一表笔与负极相连进行放电操作，通过得出的电压值来判断可控硅的好坏。这个测试可以帮助判断可控硅在高电压条件下的性能，以及是否会出现击穿现象。

四、绝缘电阻测试

绝缘电阻测试是通过对被测品施加一定的电压，然后通过仪表的指针读数来判断可控硅的优劣。绝缘电阻的大小反映了可控硅在电场作用下的绝缘性能，绝缘电阻值越大，说明可控硅的绝缘性能越好。

五、温度系数测定

温度系数测定是指在规定温度下测量可控硅的电气参数，以此来判断其在使用时的稳定程度及使用寿命长短等性能。温度系数的大小反映了可控硅在不同温度条件下的性能变化，对于长期在高温环境下工作的可控硅，温度系数的测量尤为重要。

六、直流特性试验

直流特性试验是测试可控硅在额定负载下的直流工作电流和泄漏电流大小，以确定其是否符合技术要求。这个测试可以帮助判断可控硅在直流工作条件下的性能，包括导通特性和截止特性等。

七、交流阻抗试验

交流阻抗试验是将待测可控硅接入交流电源，经过一定时间后，用示波器观察输出端的波形，以确定其是否符合标准。这个测试可以判断可控硅在交流工作条件下的性能，包括阻抗特性和频率响应等。

八、脉冲响应实验

脉冲响应实验是利用瞬态脉冲群幅值随时间变化的规律来判断可控硅的质量。通过施加一定频率和幅度的脉冲信号，观察可控硅的响应时间和响应幅度，可以判断其在瞬态负载条件下的性能。

九、测量注意事项

1. 确保测试电路安全：在搭建测试电路时，应确保电源电压在可控硅的额定电压范围内，并设置适当的限流电阻以防止过流损坏。同时，测试过程中应注意安全，避免触电等事故的发生。

2. 注意测试环境：测试环境应保持稳定，避免温度、湿度等环境因素对测量结果的影响。同时，测试过程中应避免震动、冲击等外部干扰。

3. 正确操作：在测量过程中，应严格按照测试步骤进行操作，避免误操作导致测量结果不准确或设备损坏。

十、使用万用表测量可控硅的好坏

万用表是测量可控硅好坏的常用工具，可以通过测量可控硅各引脚间的电阻值来判断其性能。以下是用万用表测量可控硅好坏的具体步骤：

1. 确定引脚极性：根据可控硅的封装形式和型号信息，确定各引脚的极性。螺栓型可控硅的螺栓端为阳极A，较细的引线端为栅极G，较粗的引线端为阴极K。

2. 设置万用表：将万用表设置为电阻测试功能，选择合适的量程。

3. 测量A和K引脚：将测试线连接到阳极A和阴极K引脚，测量其电阻值。好的可控硅应显示高电阻，单位为兆欧值。如果显示0欧姆或低电阻，说明可控硅可能已击穿或短路。

4. 测量A和G引脚：将测试线连接到阳极A和栅极G引脚，测量其电阻值。好的可控硅应显示高电阻，单位为兆欧值。如果显示0欧姆或低电阻，说明可控硅可能已击穿或短路。

5. 测量G和K引脚：将测试线连接到栅极G和阴极K引脚，测量其电阻值。好的可控硅应显示低电阻。如果显示0欧姆或无穷大，说明可控硅可能已开路或短路。

6. 触发特性测量：用镊子或导线将可控硅的阳极A和栅极G短接，相当于给栅极施加了一个正向触发电压。此时，如果可控硅的电阻值变为几欧到几十欧姆（具体电阻值会根据可控硅的型号而有所不同），说明可控硅由于正向触发而导通。然后断开阳极A和栅极G的连接，如果表针指示的数值还在几欧到几十欧的位置，说明可控硅的触发性能良好。

通过以上测量步骤，可以较为准确地判断可控硅的好坏。在实际应用中，应根据具体需求和条件选择合适的测量方法，并遵循相关安全操作规程，确保测量的准确性和安全性。对于已损坏或性能不佳的可控硅，应及时更换以确保电路的正常运行。

了解如何测量可控硅的好坏，对于保证电子设备的正常运行和提高设备的可靠性具有重要意义。希望本文能够帮助读者更好地掌握可控硅的测量方法，提高实际工作中的操作技能。